四探针电阻率测试仪有很多种，例如高温的或者常温的，不同的四探针电阻测试仪针对不同的材料测量的参数也是不同的。举例，高温四探针电阻测试仪可以测量硅、锗单晶电阻率和硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃和其他导电薄膜的方块电阻，主要用于评估半导体薄膜和薄片的导电性能。

四探针电阻率测试仪（双电）采用四端测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，实验室；是检验和分析导体材料和半导体材料质量的工具。 还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头

高温四探针电阻测试仪固态、液态、气态、颗粒状电阻、电阻率、电导率测量电脑和打印机1套；2.标准电阻1-5个

片材四探针电阻测试仪提供中文或英文两种语言操作界面选择，满足国内及国外客户需求。

双极板材料四探针低阻GB/T20042.6-2011质子交换膜燃料电池第6部分：双极板特性测试方法中四探针低阻测量和接触电阻测试方法及要求；