低阻双电四探针试验仪四探针法测试的导电性新材料、铝箔、铜箔等具有类似性质要求测量的材料.

四探针电阻率检测仪双电组合测试方法： 利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，适用于斜置式四探针对于微区的测试。

四探针方阻电阻测试仪参照标准： 1.硅片电阻率测量的标准（ASTMF84）. 2.GB/T1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》. 3.GB/T1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》. 4.GB/T1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.

材料超低电阻及电阻率测试仪主要由主机和测试治具两部分组成，结构设计符合人体工学要求，测量电阻灵敏度达0.01μΩ,电阻率灵敏度高达0.0001μΩ·m。

双电测电四探针电阻率/方阻测试仪自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；