四探针方阻仪①检查电源线是否接触良好； ②检查后面板上的电源开关是否已经打开 ③检查保险丝是否熔断，如有必要，请更换保险丝 如经上述检查无误后，测试仪仍未正常启动，请联系本公司进行解决。

薄膜四探针测定仪GB/T14141-2009硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定直排四探针法标配:测试平台一套、主机一套 电源线数据线一套。

双电测试四探针电阻率测试仪用于测试电阻、电导率等电学参数的仪器。它的工作原理是利用四个探针分别接触被测物体的四个点，形成一个闭合电路，通过测量电流和电压的变化来计算出被测物体的电学参数。

金属膜四探针方阻电阻率检测仪生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析半导体材料质量的工具；液晶显示，自动测量和系数补偿，并带有温度补偿功能，自动转换量程；

高量程体积表面积电阻率测试仪中心为圆柱体,直径为50mm, 标准中没有规定高度，但一般是40mm圆柱体外为一圆环,圆环内径为60mm,外径为80mm, 标准中没有规定高度，但一般是40mm