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四探针导电电阻测试仪
简要描述:四探针导电电阻测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高度,特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。
更新时间:2025-07-05
产品型号:BEST-300C
厂商性质:生产厂家
访问量:1261
| 品牌 | 北广精仪 | 产地类别 | 国产 | 
|---|---|---|---|
| 类型 | 接地电阻测量仪表 | 应用领域 | 化工,农林牧渔,文体,能源,建材/家具 | 
四探针导电电阻测试仪广泛用于:覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件,导电薄膜(ITO导电膜玻璃等),金属膜,导电漆膜,蒸发铝膜,PCB铜箔膜,EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆,导电性糊状物,导电性塑料,导电性橡胶,导电性薄膜,金属薄膜,抗静电材料, EMI 防护材料,导电性纤维,导电性陶瓷等
本仪器本仪器采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.
1.方块电阻sheet resistance  | 10-5~2×105ω/□  | 10-4~2×105ω/□  | 10-3~2×105ω/□  | 10-3~2×104ω /□  | 10-2~2×105ω/□  | 10-2~2×104ω/□  | 
2.电阻率resistivity  | 10-6~2×106ω-cm  | 10-5~2×106ω-cm  | 10-4~2×106ω-cm  | 10-4~2×105ω-cm  | 10-3~2×106ω-cm  | 10-3~2×106ω-cm  | 
3.测试电流test current  | 0.1μa.μa.0μa,100μa,1ma,10ma,100ma  | 1μa,10μa,100μa,1ma,10ma,100ma  | 0.1μa.μa,10μa,100μa,1ma,10ma,100 ma  | 1μa,10μa,100μa,1ma,10ma,100ma  | 0.1μa、1μa、10μa,100μa,1ma,10ma,100ma  | 1μa,10μa,100μa,1ma,10ma,100ma  | 
4.电流精度current  | ±0.1% accuracy  | ±0.2% accuracy  | ±0.2% accuracy  | ±0.3% accuracy  | ±0.3% accuracy  | ±0.3% accuracy  | 
5.电阻精度resistance  | ≤0.3% accuracy  | ≤0.3% accuracy  | ≤0.3% accuracy  | ≤0.5% accuracy  | ≤0.5% accuracy  | ≤0.5% accuracy  | 
6.显示读数display  | 屏液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率  | |||||
7.测试方式  | test mode双电测量double electrical measurement  | |||||
8.电源power  | 输入: ac 220v±10%.50hz功耗 lt;30w  | |||||
9.误差errors  | ≤3%(标准样片结果)(standard samples)  | |||||
10.选购功能choose to buy  | 选购1.pc软件;选购2.方形探头;选购3.直线形探头;选购4.测试平台;5.标准电阻.1.pc software; 2. square probe; 3. linear probe; 4. test platform  | |||||
11.测试探头test  | 探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格;探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针  | |||||
四探针导电电阻测试仪温馨提示:半导体材料的电导性能和均匀性通过四探针法来测试,四探针测试仪根据量程可以划分为,低阻四探针测试仪测到-6次方;高阻四探针测试仪测到7次方至9次方;,双电测四探针测试仪测到-5次方到5次方,单电测四探针测试仪-5次方到5次方。

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