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四探针电阻率测试仪

四探针电阻率测试仪

简要描述:四探针电阻率测试仪有很多种,例如高温的或者常温的,不同的四探针电阻测试仪针对不同的材料测量的参数也是不同的。举例,高温四探针电阻测试仪可以测量硅、锗单晶电阻率和硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃和其他导电薄膜的方块电阻,主要用于评估半导体薄膜和薄片的导电性能。

更新时间:2021-01-04

产品型号:BEST-300C

厂商性质:生产厂家

访问量:113

产品详情
品牌北广精仪产地类别国产
类型数字式电阻测试仪应用领域化工,农业,文体,能源,建材

四探针电阻率测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高度,特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。

四探针电阻率测试仪采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设

参数资料

1.电阻范围:10-5~2×105Ω/□

2.电阻率范围:10-5~2×106Ω-cm

3.测试电流范围:0.1μA ,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA

4.电流精度:±0.1%读数

5.电阻精度:≤0.3%

6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率

7.测试方式: 双电测量

8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<30W

9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)

10.选购功能: 选购1.pc软件;选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台

11.测试探头: 探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针

双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高度,特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。

四探针测试仪原理,四探针电阻测试仪

参数资料

1.方块电阻范围:10-4~2×103Ω/□

2.电阻率范围:10-5~2×104Ω-cm

3.测试电流范围:10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA

4.电流精度:±0.2%读数

5.电阻精度:≤0.3%

6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率

7.测试方式: 双电测量

8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<30W

9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)

10.选购功能: 选购1.pc软件;选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台

11.测试探头: 探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针

 

 

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