绝缘体积表面电阻率装置在测试大电容器件（如大型电缆）时，为了防止电容电流对仪表的冲击，在ZC-90G中设置了“保护—测量”选择按钮（22），其用法如下：在测量开始之前，按一下“保护—测量”选择按钮， “保护”状态指示灯（23）亮，仪表进入输入端短路的保护状态，然后再接通测量回路，在测量开始后十秒左右，大电流充电已基本完成，再按一下“保护—测量”选择按钮， “保护”状态指示灯灭，仪表进入正常测量状态

四探针方阻电阻率检测仪适用于企业、高等院校、科研部门，是检验和分析半导体材料质量的工具；液晶显示，自动测量和系数补偿，并带有温度补偿功能，自动转换量程；采用AD芯片控制，恒流输出。

四探针半导体电阻率测量仪参照标准： 1.硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）. 2.GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》. 3.GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》. 4.GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.

双电四探针电阻测试仪符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。

绝缘涂层表面体积电阻率测试仪显示迅速、稳定性好、读数方便, 适用于防静电产品如防静电鞋、防静电塑料橡胶制品、计算机房防静电活动地板等电阻值的检验以及绝缘材料和电子电器产品的绝缘电阻测量。本仪器除能测电阻外，还能直接测量电流如电子器件暗电流等。