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四探针半导体电阻率测量仪

四探针半导体电阻率测量仪

简要描述:四探针半导体电阻率测量仪参照标准:

1.硅片电阻率测量的标准(ASTM F84).

2.GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》.

3.GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》.

4.GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.

更新时间:2023-10-29

产品型号:BEST-300C

厂商性质:生产厂家

访问量:609

产品详情
品牌其他品牌价格区间1万-3万
自动化度全自动应用领域化工,生物产业,能源,电气,综合

四探针半导体电阻率测量仪测量采用四端接线法。为了满足实际的需要,本仪器采用四探针法原理来实现对不同金属、半导体、导电高分子材料的电阻及电阻率的测量。可用于物理教育实验,对导体/半导体/金属薄膜材料的电阻 及电阻率的测试及研究。本产品的电阻测量范围可达10-6—106Ω。

19.png

四探针电阻测试仪由主机、选配的四探针探头和测试台等三部分组成。主机主要由数控恒流源,高分辨率 ADC、嵌入式单片机系统组成。自动/手动量程可选;电阻率、方阻、电阻测试类别快捷切换:仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入,简便可靠;具有零位、满度自校功能;测试结果由数字表头直接显示。

21.png

四探针半导体电阻率测量仪

1.方块电阻sheet resistance

10-5~2×105Ω/□

10-4~2×105Ω/□

10-3~2×105Ω/□

10-3~2×104Ω /□

10-2~2×105Ω/□

10-2~2×104Ω/□

2.电阻率Resistivity

10-6~2×106Ω-cm

10-5~2×106Ω-cm

10-4~2×106Ω-cm

10-4~2×105Ω-cm

10-3~2×106Ω-cm

10-3~2×106Ω-cm

3.测试电流Test current

0.1μA.μA.0μA,100µA,1mA,10mA,100mA

1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA

0.1μA.μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA

1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA

0.1μA、1μA、10μA,100µA,1mA,10mA,100mA

1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA

4.电流精度Current

±0.1% accuracy

±0.2%  accuracy

±0.2%  accuracy

±0.3%  accuracy

±0.3%  accuracy

±0.3%  accuracy

5.电阻精度Resistance

≤0.3% accuracy

≤0.3% accuracy

≤0.3% accuracy

≤0.5% accuracy

≤0.5% accuracy

≤0.5% accuracy

6.显示读数display

屏液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率Large screen LCD: Resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity

7.测试方式

test mode双电测量Double electrical measurement

8.电源Power

输入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗:<30W


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