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半导电屏蔽体积电阻率智能测试仪

半导电屏蔽体积电阻率智能测试仪

简要描述:半导电屏蔽体积电阻率智能测试仪测试仪可以实现精度±0.1℃的温度测量,可以测量电线电缆导体电阻,测量结果可根据环境温度自动换算成20℃ 下的Ω/km值,用于和标准相比较。

更新时间:2023-10-30

产品型号:BEST-300C

厂商性质:生产厂家

访问量:283

产品详情
品牌北广精仪产地类别国产
类型指针式电阻测试仪应用领域能源,电子,交通,汽车,电气

半导电屏蔽体积电阻率智能测试仪依据标准为GB3048.4-2007、GB3048.3-2007、GB3956-2008、GB/T12706.2-2008GB/T12706.32008GB/T11017.1-11017.3-2002、GB/T28427-2012。

半导电屏蔽体积电阻率智能测试仪试验标准TEST STANDARD:符合GB/T3048.3《半导电橡塑材料体积电阻率》试验方法。适用范围SCOPE:本机适用于测量电线电缆用橡胶和塑料半导电材料的体格电阻率。

仪器成套组成:由主机、选配的四探针探头和测试台等三部分组成。

主机主要由数控恒流源,高分辨率 ADC、嵌入式单片机系统组成。自动/手动量程可选;电阻率、方阻、电阻测试类别快捷切换:仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入,简便可靠;具有零位、满度自校功能;测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电锂电池供电,适合手持式变动场合操作使用!

探头选配:根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有球形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO 膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头, 也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。

仪器具有测量范围宽、精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、外形美观、使用简便等特点。

仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。

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