四探针低阻率检测仪

四探针低阻率检测仪四端测试法是目前较*之测试方法，主要针对高精度要求之产品测试；本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。用于双极板材料本体电阻率和双极板与炭纸之间的接触电阻的测量和分析.4.3吋液晶屏幕显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率、电阻率、压强，自动测量、集成电路系统、恒流输出，如选购PC软件，可以分析在不同压力下接触电阻得变化曲线图谱. 由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表. 提供中文或英文两种语言操作界面选择.

BEST-300C 型材料电导率测试仪是运用四探针测量原理测试试导体、半导体材料电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。

仪器成套组成：由主机、选配的四探针探头和测试台等三部分组成。

主机主要由数控恒流源，高分辨率 ADC、嵌入式单片机系统组成。自动/手动量程可选；电阻率、方阻、电阻测试类别快捷切换：仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入，简便可靠；具有零位、满度自校功能；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电锂电池供电，适合手持式变动场合操作使用！

探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO 膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头， 也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。

仪器具有测量范围宽、精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、外形美观、使用简便等特点。

仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。

技术参数测量范围、分辨率（括号内为拓展量程，可定制）

电 阻：10.0×10-6  ～ 200.0×103 Ω, 分辨率 1.0×10-6  ～ 0.1×103 Ω（1.0×10-6  ～ 20.00×103 Ω, 分辨率 0.1×10-6  ～ 0.01×103Ω）电 阻 率：10.0×10-6  ～ 200.0×103  Ω-cm 分辨率 1.0×10-6  ～ 0.1×103 Ω-cm-cm）（1.0×10-6  ～ 20.00×103  Ω-cm 分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103  Ω方块电阻：50.0×10-6  ～ 1.0×106  Ω/□ 分辨率 5.0×10-6  ～ 0.5×103 Ω/（5.0×10-6  ～ 100.0×103  Ω/□ 分辨率0.5×10-6 ～ 0.1×103 Ω/

四探针低阻率检测仪恒流源：输出电流：DC 0.001～100mA 五档连续可调

量程：0.001～0.01mA0.01～0.10mA0.10～1.0mA1.0～10mA10～100mA

恒流精度：各档均低于±0.05%直流数字电压表：

测量范围：0～199.99mV

灵敏度：10μV基本误差：±（0.004%读数+0.01%满度）

输出电源：≥1000ΩM供电电源：AC 220V±10% 50/60 Hz 功率：12W

使用环境：温度：23±2℃ 相对湿度：≤65%