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薄膜四探针电阻率测试仪

薄膜四探针电阻率测试仪

简要描述:薄膜四探针电阻率测试仪仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。
仪器采用了电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。

更新时间:2022-02-09

产品型号:BEST-300C

厂商性质:生产厂家

访问量:71

产品详情
品牌北广精仪产地类别国产
类型数字式电阻测试仪应用领域化工,农业,文体,能源,建材

薄膜四探针电阻率测试仪技术指标 :

测量范围

电阻率:10-5~105 Ω.cm(可扩展);  方块电阻:10-4~106 Ω/□(可扩展); 电导率:10-5~105 s/cm; 电阻:10-5~105 Ω;

可测晶片直径

140mmX150mm(配S-2A型测试台);200mmX200mm(配S-2B型测试台);400mmX500mm(配S-2C型测试台);

恒流源

电流量程分为1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA六档,各档电流连续可调

数字电压表

量程及表示形式:000.00~199.99mV;    分辨力:10μV;输入阻抗 gt;1000MΩ;精度:±0.1% ;显示:四位半红色发光管数字显示;极性、超量程自动显示;

四探针探头基本指标

间距:1±0.01mm;针间绝缘电阻:≥1000MΩ; 机械游移率:≤0.3%;探针:碳化钨或高速钢Ф0.5mm;探针压力:5~16 牛顿(总力);

四探针探头应用参数

(见探头附带的合格证)

模拟电阻测量相对误差( 按JJG508-87进行)

0.01Ω、0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω、1000Ω、10000Ω≤0.3%±1字

薄膜四探针电阻率测试仪四端测试法是目前较先进之测试方法,主要针对高精度要求之产品测试;本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料之电导率。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电导率单位自动选择,BEST-300C 材料电导率测试仪自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成图表和报表。

广泛用于:覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试

硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻  半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件,导电薄膜(ITO导电膜玻璃等),金属膜,导电漆膜,蒸发铝膜,PCB铜箔膜,EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆,导电性糊状物,导电性塑料,导电性橡胶,导电性薄膜,金属薄膜,抗静电材料, EMI 防护材料,导电性纤维,导电性陶瓷等

按照硅片电阻率测量的国际标准(ASTM F84)及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准,本机配置232电脑接口及USB两种接口,本机结合采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量,更加准确.

本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。

产品特点192*64 点阵液晶屏显示。可以设置输入粉末容器的直径, 电压测量刀距,并有系统自动保存。测试过程自动显示 测试的正向电压和反向电压。直接显示测试的电阻率结果。测试参数:系统电流输出,电压量程等自动保存。有两种配置可供用户选择:1uA 或1A。

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