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低电阻率测试仪

低电阻率测试仪

简要描述:低电阻率测试仪测试材料超低电阻、电阻率和高导电性能数据。该仪器采用高精度直流恒流恒压源,高效率,稳定度和准确性高;有手动和自动设定模式;并根据测试产品特性自动转换测试量程,无需手动调节和设定。4.3吋液晶屏幕显示,自动显示测试测试电流、电压、温度、电阻率、电导率、电阻值、方阻等数据,单位可以转换;选配:如配备软件可通过软件操控仪器工作,并获得测试数据之图表和测试结果报表,有助于对产品过程质量分析;

更新时间:2021-11-02

产品型号:BEST-300C

厂商性质:生产厂家

访问量:35

产品详情
品牌北广精仪产地类别国产
类型指针式电阻测试仪应用领域化工,农业,文体,能源,建材

低电阻率测试仪适用:电线电缆行业、导体及半导体材料行业,碳素、焦化、石化、粉末冶金、高等院校、科研部门对新材料之研究,是检验和分析材料样品质量的一种重要的工具及有效方法。

低电阻率测试仪满足标准: GB/T6717、GB/T 24525-2009、YS/T63.2、 ISO 11713-2000、YS/T63.2-2005、YS/T 64-1993。GB3048.2-2007、GB/T3048.4-2007、GB/T3952-2008、GB/T3953-2009、GB/T3954-2008、GB/T3955-2009、GB/T3956-2008同时也适用于对导体材料电导率高要求之测试超低值电阻及电阻率测量.本仪器主要由主机和测试治具两部分组成,结构设计符合人体工学要求,测量电阻灵敏度达0.01μΩ,电阻率灵敏度高达0.0001μΩ·m。 测试电流能达到10A,本仪器测量电压精度高达±0.05%,输出恒流直流电流精度和稳定度优于0.1%,确保了本仪器测量电阻精度优于0.2%,可以准确测量材料超低电阻及电阻率。

BEST-300C 型材料电导率测试仪是运用四探针测量原理测试试导体、半导体材料电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。

仪器成套组成:由主机、选配的四探针探头和测试台等三部分组成。

主机主要由数控恒流源,高分辨率 ADC、嵌入式单片机系统组成。自动/手动量程可选;电阻率、方阻、电阻测试类别快捷切换:仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入,简便可靠;具有零位、满度自校功能;测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电锂电池供电,适合手持式变动场合操作使用!

探头选配:根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有球形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO 膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头, 也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。

仪器具有测量范围宽、精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、外形美观、使用简便等特点。

仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。

技术参数:电阻率:10-5~2×106Ω-cm电   阻:10-5~2×106Ω

电导率:5×10-6~105ms/cm分辨率: 小0.1μΩ测量误差±(0.05%读数±5字)测量电压量程: 2mV   20mV  200mV 2V 测量精度±(0.1%读数)分辨率:  0.1uV  1uV  10uV  100uV电流输出:直流电流 0~1000mA 连续可调,由交流电源供电。
量程:1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,1000mA, 误差:±0.2%读数±2字显示方式:液晶显示电阻值、电阻率、电导率值、温度、压强值、单位自动换算传感器压力:200kg  (其他规格可以定制)粉末测量装置 模具:内径10mm;高:25mm;加压方式:手动液压加压/自动加压方式(选购)

电源:220±10% 50HZ/60HZ主机外形尺寸:330mm*350mm*120mm净重量:约6kg

导电电阻率测试仪功能介绍:本仪器采用四端测量法适用于碳素粉末厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研部门,是检验和分析粉末样品质量的一种重要的工具。本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示电阻值、电阻率、电导率值、温度、压强值、单位自动换算,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.使用薄膜按键开关面板,操作简单,耐用,符合人体工学操作规范. 提供中文或英文两种语言操作界面

导电电阻率测试仪满足:YST 587.6-2006 炭阳极用煅后石油焦检测方法 第6部分 粉末电阻率的测定

配置手动粉末测试装置也可以(选购)自动粉末测试装置,测试粉末时可以通过装置获得粉末压实后高度、直径、压强等数据,输入仪器后自动计算出所需数据.能方便解决粉末及颗粒物料电阻、电阻率及电导率测量需求,经济实惠,功能突出,设计合理,是粉末行业理想之测试仪器.

BEST-300C导电材料电阻率测定仪

按照硅片电阻率测量的国际标准(ASTM F84)及标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准,本机配置232电脑接口及USB两种接口,本机采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量,更加准确.

本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购

维护和保养

1 .使用者的维护

为了防止意外发生,请不要接触机内部件。本机器内部所有的零件,绝对不需使用者的维护。如果机器有异常情况发生,请直接与瑞柯仪器公司厂家联系或其的经销商给予维护。

2. 使用者的修改

使用者不得自行更改机器的线路或零件,如被更改机器后保修则自动失效并且本公司不负任何事故责任。在保修内使用未经我公司认可的零件或附件造成故障也不予保证。如发现送回检修的机器被更改,将机器的电路和零件修复回原来设计的状态,并收取修护费用。

3.测试工作站

3.1工作位置

工作站的位置选择必须安排在一般人员非必经的处所,使非工作人员选离工作站。如果因为条件限制的安排而无法做到时,必须将工作站与其这它设施隔开并且特别标明“测试工作站"。如果工作站与其它作业站非常接近时,必须特别注意安全的问题。在测试时必须标明“测试执行中,非工作人员请勿靠近"

4.输入电源

输入:220V±10%  使用频率:50Hz

4.3.3工作场所

尽可能使用非导电的工作桌工作台。操作人员和待测物之间不得使用任何金属。操作人员的位置不得有跨越待测物去操作或调整测试仪器的现象。测试场所必须随时保持整齐、干净,不得杂乱无章。测试站及其周边之空气中不能含有可燃气体或在易燃物质。

4.3.4人员资格

本仪器为精密仪器,必须由训练合格的人员使用和操作。

4.3.5安全守则

操作人员必须随时给予教育和训练,使其了解各种操作规则的重要性,并依安全规则操作。

4.3.6衣着规定

操作人员不可穿有金属装饰的衣服或戴金属手饰和手表等,这些金属饰物很容易造成意外的感电。

4.3.7医学规定

绝对不能让有心脏病或配戴心律调整器的人员操作。

4.4测试安全程序规定

一定要按照规定程序操作。操作人员必须确定能够完全自主掌控各部位的控制开关和功能。

4.5安全要点

● 非合格的操作人员和不相关的人员应远离测试区。

● 万一发生问题,请立即关闭电源并及时处理故障原因。

1.使用前期准备--测试前准备工作:

1.1.开机预热:将220V电源插头插入电源插座,打开电源开关,让仪器预热15分钟,保证测试数据稳定。若测试仪无常启动,请按以下步骤检查:

①检查电源线是否接触良好;

②检查后面板上的电源开关是否已经打开

③检查保险丝是否熔断,如有必要,请更换保险丝

④ 如经上述检查无误后,测试仪仍未正常启动,请联系本公司进行解决。

1.2.准备好被测物,链接好测试探头,把测试探头接口与主机接口相连接,并锁定,防止松动或接触不良而对测试结果造成影响.

1.3.接通电源,开启电源开关,待仪器液晶显示屏上显示出厂家和产品信息后,如图3,按“显示"键进入,

1.4.进入测试功能界面如图4、图5;如测试方阻时,请选择液晶显示屏又侧对应 的功能按键“方阻",则进入方阻测试界面;如测试其他材料时,请选择“材料"则进入材料电阻,电阻率,电导率测试仪界面。

1.5.设置好被测物所需之参数,把被测物放于测试治具平台上操作,测试完毕直接显示测试数据。如配置软件,软件操作说明书同安装软件在一起,请注意查看操作步骤.

以下分别讲解方阻和材料测试的设置

2.四探针方阻测试步骤

2.1.上述步骤中1项,使用前期准备

2.2 把被测物测试所需要之参数数据设定:

2.2.1依据不同之测试样品,选择被测试电流,电流设置:按方向键移动光标至“电流"功能,按“设置"键进入;再按“左右"方向键选择电流数据,选择完毕后按“确定"键进行确认。按照以上步骤和方法选择电压、长度单位、探针形状设定、温度.

2.2.2.探针间距数据的输入,探针间距出厂时已经标定,无需再次测量,探针头上有详细的探针数据资料,探针间距的设置:将光标移动至“探针间距"按“设置"键进入,通过面板上面的“数字"按键输入数据按“确定"键进行确认;按照以上方法和步骤设定"厚度“,注意厚度和探针间距修正系数表已经设置在仪器程序中,自动修正,无需再次输入和查询表格。

2.3.测试探头和测试平台操作

选配测试平台的将被测物放在测试平台上,调节探头探针与样品良好接触,探头有二种,一种是探针是弹簧针型,一种是硬针而探头内腔有弹簧;探头有方型和直线型两种结构;调节测试平台上的水平定位角,保证水平仪水准在中心位置;放置好被测物品,后压下探头至被测物,带数据稳定后读取

 

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