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双电测电四探针电阻率/方阻测试仪

双电测电四探针电阻率/方阻测试仪

简要描述:双电测电四探针电阻率/方阻测试仪自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;

更新时间:2021-06-07

产品型号:BEST-300C

厂商性质:生产厂家

访问量:68

产品详情
品牌北广精仪产地类别国产
类型数字式电阻测试仪应用领域化工,农业,文体,能源,建材

双电测电四探针电阻率/方阻测试仪采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.

双电测电四探针电阻率/方阻测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高度,特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。

采用四探针组合双电测量方法,液晶显示,自动测量,自动量程,自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出;选配:pc软件进行数据管理和处理.

双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国a.s.t.m标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.采用了四探针双电测组合(亦称双位组合)测量新技术,将范德堡测量方法推广应用到直线四探针上,利用电流探针、电压探针的变换,在计算机控制下进行两次电测量,能自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响。因而每次测量不必知道探针间距、样品尺寸及探针在样品表面上的位置。由于每次测量都是对几何因素的影响进行动态的自动修正,因此显著降低了几何因素影响,从而提高了测量结果的准确度。所有这些,用目前大量使用的常规四探针测量方法所生产的仪器是无法实现的。

满足标准:

1.硅片电阻率测量的国际标准(ASTM F84).

2.GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》.

3.GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》.

4.GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.

功能描述

  1. 四探针组合双电测量方法
  2. 液晶显示,自动测量,自动量程,自动系数补偿.
  3. 高集成电路系统、恒流输出.
  4. 选配:PC软件进行数据管理和处理.
  5. 提供中文或英文两种语言操作界面选择
  6. 适用范围:覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试
  7. 硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻  半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件,导电薄膜(ITO导电膜玻璃等),金属膜,导电漆膜,蒸发铝膜,PCB铜箔膜,
  8. EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率  导电性油漆,导电性糊状物,导电性塑料,导电性橡胶,导电性薄膜,金属薄膜,
  9. 抗静电材料, EMI 防护材料,导电性纤维,导电性陶瓷等,

技术参数

1、电阻率: 1×10-6~2×106Ω.cm、

电   阻:1×10-5~2×105Ω

电导率:5×10-6~1×108ms/cm

分辨率:  小1μΩ
测量误差±5%
2、测量电压量程: 2mV   20mV  200mV 2V 
   测量精度±(0.1%读数)

分辨率:  0.1uV  1uV  10uV  100uV
3、⑴电流输出:直流电流 0~1000mA 连续可调,由交流电源供电。
   ⑵量程:1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,1000mA, 
   ⑶误差:±0.2%读数±2字

4. 主机外形尺寸:330mm*340mm*120mm

5、显示方式:液晶显示6、电源:220±10% 50HZ/60HZ

7、标配:测试平台一套、主机一套、电源线数据线一套。

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