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四探针电阻率测试仪(双电)

四探针电阻率测试仪(双电)

简要描述:四探针电阻率测试仪(双电)采用四端测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门,实验室;是检验和分析导体材料和半导体材料质量的工具。

还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配探头

更新时间:2020-12-25

产品型号:BEST-300C

厂商性质:生产厂家

访问量:160

产品详情
品牌北广精仪产地类别国产
类型接地电阻测量仪表应用领域化工,农业,文体,能源,建材

四探针电阻率测试仪(双电)可直接测量电极1和2之间表面间隙的电阻。这样测得的电阻包括了电极1和2之间的表面电阻和这两个电极间的体积电阻。

还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配探头

注:由于通过试样内层的电流的影响,表面电阻率的计算值与试样和电极的尺寸有很大的关系,因此,为了测定时可进行比较,推荐使用与图2所示的电极装置的尺寸相一致的试样,其中d1= 50 mm, d2 = 60 mm, ds = 80 mm,

量程: 20.00mV

本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。

还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配探头

然而,对于很宽范围的环境条件和材料性能,当电极尺寸合适时, 体积电阻的影响可忽略不计。

薄片电阻率测量:

四探针电阻率测试仪(双电)

配置不同测量装置测试不同类型材料之电阻率.

当薄片厚度与针距比 W/S>0.5 时, 设定电阻率基本系数 C,参照表 5.1,厚度修正 G<1.000,形状位置修正 D<1.000,具体值 G(W/S)和 D(d/S)要查附表 1 和附表 2, 只读结果。

PC软件过程数据处理.

当薄片厚度与针距比 W/S>0.5 时, 设定电阻率基本系数 C,参照表 5.1,厚度修正 G<1.000,形状位置修正 D<1.000,具体值 G(W/S)和 D(d/S)要查附表 1 和附表 2, 只读结果。

四端测试法是目前较先进之测试方法,主要针对高精度要求之产品测试;本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。

工作室内应无强电磁场干扰,不与高频设备共用电源。

为测定表面电阻率,试样的形状不限,只要允许使用第三电极来抵消体积效应引起的误差即可。

测试类别的快捷选择方式,方便了用户同时测试多个参数,提高测试效率。

电源

外形尺寸:

阻率: 1×10-6~2×106Ω.cm、

电   阻:1×10-5~2×105Ω

电导率:5×10-6~1×108ms/cm

分辨率:  小1μΩ
测量误差±5%
测量电压量程: 2mV   20mV  200mV 2V 
测量精度±(0.1%读数)

分辨率:  0.1uV  1uV  10uV  100uV
电流输出:直流电流 0~1000mA 连续可调,由交流电源供电。

量程:1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,1000mA, 
误差:±0.2%读数±2字

主机外形尺寸:330mm*340mm*120mm

显示方式:液晶显示6、电源:220±10% 50HZ/60HZ

标配:测试平台一套、主机一套、电源线数据线一套。

PC软件过程数据处理.

四端测量法.

外形尺寸:

四探针方阻电阻率测试仪是目前较先进之测试方法,主要针对高精度要求之产品测试;

四探针测试探头

化导致的电流变化与被测电流相比可忽略不计。

测试类别的快捷选择方式,方便了用户同时测试多个参数,提高测试效率。

标准电阻校准仪器.

结果。

也可以使用条形电极或具有合适尺寸的其他装置。

也有球形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO 膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具

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