频率与温度对介电常数损耗测定仪试验结果的影响

点击次数：112 发布时间：2025-08-04

介电常数测定仪是用于测量固体、液体绝缘材料介电常数及介质损耗因数的分析仪器，主要用于检测橡胶塑料薄膜、陶瓷玻璃、高分子材料等绝缘材料的介电性能。

高频谐振法/Q表法‌：

‌原理‌：通过DDS数字合成信号源生成特定频率信号，结合谐振点自动搜索技术，测量电容、电感及Q值，间接计算介质损耗和介电常数。

‌频率范围‌：20kHz～1600MHz（不同型号覆盖区间不同）。

‌精度‌：

介质损耗因数范围：0.0001-1。

Q值范围：1–1023，测量误差≤10%（50MHz频段）。

频率与温度的影响规律：

‌频率依赖性‌：

‌低频段‌：极化充分响应，ε达峰值，tanδ较小；

‌特征频率点‌：当电场频率接近极化弛豫时间时，tanδ出现峰值（能量损耗最大）；

‌高频段‌：极化滞后，ε阶梯式下降，tanδ因分子摩擦加剧可能升高。

‌温度依赖性‌：

升温加速极化弛豫，使tanδ峰值向高频移动；

过高温度可能破坏极化机制，导致ε骤降（如铁电材料居里点）。

介电常数损耗测定仪现场试验注意事项：

如果使用中出现测试数据明显不合理，请从以下方面查找原因：

1、接地接触不良

接地不良会引起仪器保护或数据严重波动。应刮净接地点上的油漆和锈蚀，务必保证0电阻接地！

2、测试线

由于长期使用，易造成测试线隐性断路，或芯线和屏蔽短路，或插头接触不良，用户应经常维护测试线。