四探针电阻测试仪的测试原理

四探针电阻测试仪的测试原理基于‌电流-电压分离测量法‌，通过消除接触电阻和引线电阻的影响实现高精度测量。其核心工作原理如下：

一、四探针电阻测试仪基本测量原理

‌探针布置与功能分工‌
四个探针以直线或矩形排列接触被测样品表面，外侧两探针（1、4号）连接恒流源施加稳定电流，内侧两探针（2、3号）连接高精度电压表测量电势差。

‌电流探针‌：驱动电流注入样品形成电场分布。

‌电压探针‌：检测非电流路径位置的电压差，避免接触电阻干扰。

二、四探针电阻测试仪关键设计特性

‌开尔文四线法优化‌
通过独立电流回路和电压测量回路，消除引线电阻和接触电阻的影响，确保测量仅反映样品本身特性。

‌探针配置适应性‌

‌直线排列‌：适用于大尺寸块状或板状样品，探针间距可调。

‌矩形/正方形排列‌：适合细长条状或棒状样品，减少边缘效应干扰。

‌仪器硬件特性‌

探针采用碳化钨材质，配合宝石导套和弹簧压力装置，确保接触稳定性和耐久性。

数字电压表分辨率达0.1μV，支持自动量程切换和极性调节。

三、四探针电阻测试仪适用场景与优势

‌主要应用‌
广泛应用于半导体晶圆、金属薄膜、陶瓷等材料的电阻率和方阻测量，尤其适合微区或局部电学特性分析。

‌技术优势‌

‌非破坏性‌：表面接触测量，不干扰材料内部结构。

‌高精度‌：修正系数（如η/F）可适配不同几何形状样品，减小边缘效应误差。

‌环境稳定性‌：测量结果受温湿度等外部条件影响小。

四、四探针电阻测试仪典型仪器结构示例（以BEST-300C型为例）

‌电气模块‌：集成恒流源、高精度电压检测及数字处理单元，支持电阻率/方阻自动切换显示。

‌机械结构‌：配备高度粗调/细调装置和压力自锁机构，确保探针接触压力均匀可控

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