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薄膜介电常数测试仪的测试顺序

点击次数:1243 发布时间:2020-12-23

先要详细了解配用Q表的使用方法,操作时,要避免人体感应的影响。

  1. 把配用的Q表主调谐电容置于小电容量,微调电容置于-3pF。
  2. 把本测试装置插到Q 表测试回路的“电容”两个端子上。
  3. 配上和测试频率相适应的高Q值电感线圈
  4. 调节平板电容器测微杆,使二极片相接为止,读取刻度值记为DO
  5. 再松开二极片,把被测样品插入二极片之间,调节平板电容器,到二极片夹住样品止(注意调节时要用测微杆,以免夹得过紧或过松),这时能读取新的刻度值,记为D1,这时样品厚度D2= D1-D0
  6. 把园筒电容器置于5mm处。
  7. 改变配合Q表频率,使之谐振,读得Q值。
  8. 先顺时针方向,后逆时针方向,调节园筒电容器,读取当Q表指示Q值为原值的一半时测微杆上二个刻度值,取这二个值之差,记为M1
  9. 再调节园筒电容器,使Q表再次谐振。
  10. 取出平板电容器中的样品,这时Q表又失谐,调节平

板电容器,使再谐振,读取测微杆上的读值D3,其变化值为

D4= D3-D0

  1. 和h款操作一样,得到新的二个值之差,记为M2

3.  计算测试结果

被测样品的介电常数:

Σ=D2 / D4

被测样品的损耗角正切值:

     tgδ=K(M1-M2 )/ 15.5

式中:K为园筒电容器线性变化率,一般为0.33 / mm,每个测试夹具在盒盖内标有具体数值。

一般按以上公式计算的结果,其精度和重复性是能满足的,但对介电常数大的被测样品(即样品从平板样品放入和取出,平板电容器刻度值变化较大),边缘效应电容对测试会有较显著的影响,这时可按下列公式计算:

Σ=(C2 + CF2-CF)/ C1

tgδ=K(M1-M2 )/ 3.46(C2 + CF2-CF)/ C1

使用方法

使用本测试装置和Q表配用,对绝缘材料以及其他高阻性能的薄材,列如:纸张、木材、粉压片料等,进行相对测量,其测试方法就非常简便、实用,采取被测样品和标准样品相比较方法,就能灵敏地区别二者之间的轻微差别,例如含水量、配用原料变动等等。

测试时先把标准样品放入平板电容器,调节Q表频率,谐振后读得Q值,再换上被测样品,调节园筒电位器,再谐振,看Q值变化,如Q值变化很小,说明标准样品和被测样品高频损耗值一致,反之说明二者性能有区别,如园筒电容器调节不能再谐振,通过调节Q表频率才能谐振,且频率变化较大,说明被测样品和标准样品的配用原材料相差较大。

本测试装置是由精密机械构件组成的测微设备,所以在使用和

保存时要避免振动和碰撞,要求在不含腐蚀气体和干燥的环境中使用和保存,用户不能自行拆装,否则其工作性能就不能保证,如测试夹具受到碰撞,或者作为定期检查,要检测以下几个指标:

  1. 平板电容器二极片平行度不超过0.02mm。
  2. 园筒电容器的轴和轴同心度误差不超过0.1mm。
  3. 保证二个测微杆0.01mm分辨率。

用精密电容测量仪(±0.01pF分辨率)测量园筒电容器,电容呈线性率,从0~20mm,每隔1mm测试一点,要求符合工作特性要求。

  1. 平板电容器

极片尺寸:φ25.4mm

极片间距可调范围和分辨率:≥10mm,±0.01mm

  1. 园筒电容器

电容量线性:0.33pF / mm±0.05 pF

长度可调范围和分辨率:≥0~20mm,±0.01mm

3.  夹具插头间距:25mm±1mm

4.  夹角损耗角正切值:≤4×104(1MHz时)

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