硅胶介电常数测定仪

硅胶介电常数测定仪外壳由绝缘套筒及钢板制成的底和盖组成，底和盖用螺栓及环紧固在绝缘套筒的两端。在电容器的上下两端有防晕罩。电容器外壳内装有同轴高度抛光的圆柱形高低压电极。电容器设有压力表及气阀，供观察内部压力及充放气使用

技术参数：

1. 电容器安装运行海拔不超过1000米，使用周围空气温度-10℃~40℃，相对湿度不超过70%。

2. 电容器的工作频率为100Hz。

3. 电容器实测值不大于±0.05%，与标称值不大于±3%

4. 电容器温度系数 ≤ 3×10-5 /℃

5. 电容器压力系数 ≤ 3×10-3Mpa

6. 电容器的损耗角正切值不大于1×10-5 、2×10-5 、5×10-5 三档。

电容器内充SF6气体。在20℃时，压力为0.4±0.1Mpa

固体绝缘材料测试电极

本电极适用于固体电工绝缘材料如绝缘漆、树脂和胶、浸渍纤制品、层压制品、云母及其制品、塑料、电缆料、薄膜复合制品、陶瓷和 玻璃等的相对介电系数（ε）与介质损耗角正切值（tgδ）的测试本电极主要用于频率在工频50Hz下测量试品的相对介电系数（ε）和介质损耗角正切值（tgδ

主要技术指标

环境温度：20±5℃

相对湿度：65±5%

高低压电极之间距离：0~5mm可调

百分表示值：0.01mm(一粒1.5V氧化银电池供电)

测量极直径：70±0.1mm

空极tgδ：≤5×10-5

空极电容量：40±1pF

高测试电压：2000V

实验频率：50/100Hz

体积：Ф210mm H180mm

重量：6kg

硅胶介电常数测定仪

介电常数测试仪由高频阻抗分析仪、测试装置，标准介质样品组成，能对绝缘材料进行 高低频介电常数(ε)和介质损耗角(D或tanδ) 的测试。它符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。介电常数测试仪工作频率范围是20Hz～2MHz,它能完成工作频率内对绝缘材料的相对介电常数(ε)和介质损耗角 (D或tanδ)变化的测试。介电常数测试仪中测试装置是由平板电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用高频阻抗分析仪作为指示仪器。绝缘材料的介电常数和损耗值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的D值(损耗值)变化和Cp（电容值）读数通过公式计算得到。 

概述具有多种功能和更高测试频率的新型阻抗分析仪，体积小，紧凑便携，便于上架使用。本系列仪器基本精度为0.05%，测试频率最高2MHz及10mHz的分辨率，4.3寸的LCD屏幕配合中英文操作界面，操作方便简洁。集成了变压器测试功能、平衡测试功能,提高了测试效率。仪器提供了丰富的接口，能满足自动分选测试，数据传输和保存的各种要求。

 性能特点

◎ 4.3寸TFT液晶显示

◎ 中英文可选操作界面

◎ 最高1MHz的测试频率，10mHz分辨率

◎ 平衡测试功能

◎ 变压器参数测试功能

◎ 最高测试速度:13ms/次

◎ 电压或电流的自动电平调整（ALC）功能

◎ V、I 测试信号电平监视功能

固体绝缘材料测试频率20Hz～2MHz的ε和D变化的测试。

 ε和D测量范围：ε：1～105，D：0.1～0.00005，

ε和D测量精度（10kHz）：ε：±2% ， D：±5%±0.0001。

测试参数 :C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

测试频率 :20 Hz～2MHz,10mHz步进

测试信号电:f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）

平 :f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)

输出阻抗:10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本准确度 ;0.1%

显示范围 :

L 0.0001 uH ～ 9.9999kH

C :0.0001 pF ～ 9.9999F

R,X,Z,DCR :0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ

显示范围 :

Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S

D :0.0001 ～ 9.9999

Q :0.0001 ～ 99999

θ :-179.99°～ 179.99°

置源 :电流模式（内阻为50Ω）-100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步进

比较器功能:10档分选及计数功能

显示器;320×240点阵图形LCD显示

存储器 :可保存20组仪器设定值

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口 :LAN(LXI class C support) RS232C HANDLERGPIB（选件）

工作频率范围：20Hz～2MHz 数字合成，

精度：±0.02%

电容测量范围：0.00001pF～9.99999F 六位数显

电容测量基本：±0.05%

损耗因素D值范围：0.00001～9.99999 六位数显

介电常数测试装置（含保护电极）： 精密介电常数测试装置提供测试电极，能对直径φ10～56mm，厚度<10mm的试样精确测量。

它针对不同试样可设置为接触电极法，薄膜电极法和非接触法三种，以适应软材料，表面不平整和薄膜试样测试。

微分头分辨率：10μm

最高耐压：±42Vp（AC+DC）

电缆长度设置：1m

最高使用频率：30MHz