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介电常数及介质损耗测试仪-低频

介电常数及介质损耗测试仪-低频

简要描述:介电常数及介质损耗测试仪-低频微分头分辨率:10μm

最高耐压:±42Vp(AC+DC)

电缆长度设置:1m

最高使用频率:30MHz

更新时间:2023-10-29

产品型号:GDAT-S

厂商性质:生产厂家

访问量:620

产品详情
品牌北广精仪价格区间2万-5万
产地类别国产应用领域化工,生物产业,能源,电气,综合

介电常数及介质损耗测试仪-低频由高频阻抗分析仪、测试装置,标准介质样品组成,能对绝缘材料进行 高低频介电常数(ε)和介质损耗角(D或tanδ) 的测试。它符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。

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介电常数测试仪工作频率范围是20Hz~2MHz,它能完成工作频率内对绝缘材料的相对介电常数(ε)和介质损耗角 (D或tanδ)变化的测试。

介电常数测试仪中测试装置是由平板电容器组成,平板电容器一般用来夹被测样品,配用高频阻抗分析仪作为指示仪器。绝缘材料的介电常数和损耗值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的D值(损耗值)变化和Cp(电容值)读数通过公式计算得到。 

概述

GDAT-S是具有多种功能和更高测试频率的新型阻抗分析仪,体积小,紧凑便携,便于上架使用。本系列仪器基本精度为0.05%,测试频率最高2MHz及10mHz的分辨率,4.3寸的LCD屏幕配合中英文操作界面,操作方便简洁。集成了变压器测试功能、平衡测试功能,提高了测试效率。仪器提供了丰富的接口,能满足自动分选测试,数据传输和保存的各种要求。

性能特点

◎ 全自动一键操作可自动扫描最平稳的量程阶段

◎微电脑处理器反应迅速可在最短时间内计算出最佳频段

◎ 夹具数字显示

◎ 4.3寸TFT液晶显示

◎ 中英文可选操作界面

◎ 最高2MHz的测试频率,10mHz分辨率

◎ 平衡测试功能

◎ 变压器参数测试功能

◎ 最高测试速度:13ms/次

◎ 电压或电流的自动电平调整(ALC)功能

◎ V、I 测试信号电平监视功能

◎ 内部自带直流偏置源

◎ 可外接大电流直流偏置源

◎ 10点列表扫描测试功能

◎ 30Ω、50Ω、100Ω可选内阻

◎ 内建比较器,10档分选和计数功能

◎ 内部文件存储和外部U盘文件保存

◎ 测量数据可直接保存到U盘

◎ RS232C、 USB 、LAN、HANDLER、GPIB、DCI接口

◎ 高频阻抗分析仪电容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值显示,保证了ε和D值精度和重复性。

◎ 介电常数测量范围可达1~105

主要技术指标: 

ε和D性能:

固体绝缘材料测试频率20Hz~2MHz的ε和D变化的测试。

 ε和D测量范围:ε:1~105,D:0.1~0.00005,

ε和D测量精度(10kHz):ε:±2% , D:±5%±0.0001。

测试参数 :C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

测试频率 :20 Hz~2MHz,10mHz步进

测试信号电:f≤1MHz 10mV~5V,±(10%+10mV)

平 :f>1MHz 10mV~1V,±(20%+10mV)

输出阻抗:10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本准确度 ;0.1%

显示范围 :

L 0.0001 uH ~ 9.9999kH

C :0.0001 pF ~ 9.9999F

R,X,Z,DCR :0.0001 Ω ~ 99.999 MΩ

Y, B, G 0.0001 nS ~ 99.999 S

D :0.0001 ~ 9.9999

Q :0.0001 ~ 99999

θ :-179.99°~ 179.99°

测量速度 ;快速: 200次/s(f﹥30kHz) ,100次/s(f﹥1kHz)

中速: 25次/s, 慢速: 5次/s

校准功能 :开路 / 短路点频、扫频清零,负载校准

等效方式 :串联方式, 并联方式

量程方式:自动, 保持

显示方式 :直读, Δ, Δ%

触发方式 :内部, 手动, 外部, 总线

内部直流偏 :电压模式-5V ~ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步进

置源 :电流模式(内阻为50Ω)-100mA ~ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步进

比较器功能:10档分选及计数功能

显示器;320×240点阵图形LCD显示

存储器 :可保存20组仪器设定值

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口 :LAN(LXI class C support) RS232C HANDLERGPIB(选件)

工作频率范围:20Hz~2MHz 数字合成,

精度:±0.02%

电容测量范围:0.00001pF~9.99999F 六位数显

电容测量基本误差:±0.05%

损耗因素D值范围:0.00001~9.99999 六位数显

介电常数测试装置(含保护电极): 精密介电常数测试装置提供测试电极,能对直径φ10~56mm,厚度<10mm的试样精确测量。

它针对不同试样可设置为接触电极法,薄膜电极法和非接触法三种,以适应软材料,表面不平整和薄膜试样测试。

介电常数及介质损耗测试仪-低频高频介质样品(选购件): 在现行高频介质材料检定系统中,检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。该样品由人工蓝宝石,石英玻璃, 氧化铝陶瓷,聚四氟乙烯,环氧板等材料做成Φ50mm,厚1~2mm测试样品。用户可按需订购,以保证测试装置的重复性和准确性。

GDAT-S图片4(1).jpg


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