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陶瓷高压电容电桥试验仪

陶瓷高压电容电桥试验仪

简要描述:陶瓷高压电容电桥试验仪电容量Cx 40pF--20000pF ±0.5% Cx±2pF介质损耗tgδ 0~1 ±1.5%tgδx±1×10-4在Cn=100pF R4=318.3(Ω)(即1K/π)时测量项目 测量范围 测量误差

更新时间:2023-10-29

产品型号:BQS-37A

厂商性质:生产厂家

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产品详情
品牌北广精仪应用领域化工,生物产业,能源,电气,综合

陶瓷高压电容电桥试验仪(工频介电常数测试仪)采用典型的西林电桥线路。C4桥臂在基本量程时,与R4桥臂并联,测量数值为正损耗因数。结构采用了双层屏蔽。并通过辅桥的辅助平衡,消除寄生参数对电桥平衡的影响。辅桥由电位自动电位跟踪器与内层屏蔽(S)组成。自动跟踪器由电子元器件组成。它在桥顶B处取一输入电压,通过放大后,在内屏蔽(S)产生一个与B电位相等的电压。当电桥在平衡时,A,B,S三点电位必然相等,从而达到自动跟踪的目的。本电桥在平衡过程中,辅桥采用自动电位跟踪,在主桥平衡过程的同时,辅桥也自动跟踪始终处于平衡的状态,用户只要对主桥平衡进行操作就能得到可靠的所需数据。同时也有效的抑制了电压波动对平衡所带来的影响。在指零部分,采用了指针式电表指示,视觉直观,分辨清楚,克服了以往振动式检流计的缺点。陶瓷高压电容电桥试验仪复合材料的介电损耗随云母填料的增加,出现波浪形变化。加入S00目云母填料时,试样t} s值变化不大。随着粒径的变小(在所研究范围内),试样的介电损耗变化幅度相对增大,尤其是纳米级云母加入后,在质量分数to%时,到达极大值,随后降低。其原因在于,环氧树脂复合材料的介电损耗取决于环氧树脂极性基团的松弛损耗以及极性杂质电导损耗的共同作用。加入纳米云母后,由于在材料制备过程中其表面不可避免地会吸附一些极性杂质,导致电导损耗的增加,所以用它来改性的环氧树脂整体来说出现升高趋势。

术语和定义

下列术语和定义适用于本标准。

相对电容率relative permittivity

ε r

电容器的电极之间及电极周围的空间全部充以绝缘材料时,其电容Cx与同样电极构形的真空电容Co之比;

 ……………………………(1)

式中;

εr——相对电容率;

Cx——充有绝缘材料时电容器的电极电容;

Co——真空中电容器的电极电容。

在标准大气压下,不含二氧化碳的干燥空气的相对电容率ε r等于1.00053,因此,用这种电极构形在空气中的电容Cx来代替Co测量相对电容率εr时,也有足够的度。

在一个测量系统中,绝缘材料的电容率是在该系统中绝缘材料的相对电容率εr与真空电气常数εr的乘积。

在SI制中,电容率用法/米(F/m)表示。而且,在SI单位中,电气常数εr

因为只有少数材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很宽的频率范围内它们的εr和tanδ几乎是恒定的,且被用作工程电介质材料,然而一般的电介质材料必须在所使用的频率下测量其介质损耗因数和电容率。

电容率和介质损耗因数的变化是由于介质极化和电导而产生,重要的变化是极性分子引起的偶极子极化和材料的不均匀性导致的界面极化所引起的。

温度

损耗指数在一个频率下可以出现一个大值,这个频率值与电介质材料的温度有关。介质损耗因数和电容率的温度系数可以是正的或负的,这取决于在测量温度下的介质损耗指数大值位置。

湿度

极化的程度随水分的吸收量或电介质材料表面水膜的形成而增加,其结果使电容率、介质损耗因数和直流电导率增大。因此试验前和试验时对环境湿度进行控制是*的。

注:湿度的显著影响常常发生在1MHz以下及微波频率范围内。

电场强度

存在界面极化时,自由离子的数目随电场强度增大而增加,其损耗指数大值的大小和位置也随此而变。

在较高的频率下,只要电介质中不出现局部放电,电容率和介质损耗因数与电场强度无关。


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