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塑料薄膜介质损耗因数测试仪

塑料薄膜介质损耗因数测试仪

简要描述:塑料薄膜介质损耗因数测试仪采用先进的数字电路技术,测试电压、漏电流均为数字显示,可以直观、准确、快速、安全的输出高压。

更新时间:2022-04-07

产品型号:GDAT-A

厂商性质:生产厂家

访问量:69

产品详情
品牌北广精仪应用领域化工,农业,文体,能源,建材

塑料薄膜介质损耗因数测试仪在下面的计算公式中,用户可根据实际使用情况估算出电桥灵敏度水平,在这

个水平上的电容与介质损耗因数的微小变化都能够反应出来。

          DC/C或Dtgd=Ig/UwCn(1+Rg/R4+Cn/Cx)   

         式中:U为测量电压                     伏特(V)

ω为角频率 2pf=314(50Hz)                            

          Cn标准电容器容量                    皮法(pF)

          Ig通用指另仪的电流5X10-10            安培(A)

          Rg平衡指另仪内阻约1500              欧姆(W)

          R4桥臂R4电阻值3183                 欧姆(W)

          Cx被测试品电容值                    皮法(pF)

2.3 电容量及介损显示精度:

    电容量: ±0.5%×tgδx±0.0001。

    介  损: ±0.5%tgdx±1×10-4

2.4 辅桥的技术特性:

    工作电压±12V,50Hz

    输入阻抗>1012 W

    输出阻抗>0.6 W

    放大倍数>0.99

    不失真跟踪电压  0~12V(有效值)

2.5 指另装置的技术特性:

    工作电压±12V

    在50Hz时电压灵敏度不低于1X10-6V/格, 电流灵敏度不低于2X10-9A/格

    二次谐波  减不小于25db

三次谐波  减不小于50db

塑料薄膜介质损耗因数测试仪本标准规定了在15 Hz〜300 MHz的频率范围内测量电容率、介质损耗因数的方法,并由此计算某 些数值,如损耗指数。本标准中所叙述的某些方法,也能用于其他频率下测量。

本标准适用于测量液体、易熔材料以及固体材料。测试结果与某些物理条件有关,例如频率、温度、 湿度,在特殊情况下也与电场强度有关.

有时在超过1 000 V的电压下试验,则会引起一些与电容率和介质损耗因数无关的效应,对此不予 论述。

电容器的电极之间及电极周围的空间全部充以绝缘材料时,其电容Cx与同样电极构形的真空电 容G之比:

式中:

相对电容率:

充有绝缘材料时电容器的电极电容;

真空中电容器的电极电容。

在标准大气压下,不含二氧化碳的干燥空气的相对电容率%等于L 000 53o因此,用这种电极构 形在空气中的电容G来代替G测量相对电容率%时,也有足够的精确度。

在一个测量系统中,绝缘材料的电容率是在该系统中绝缘材料的相对电容率%与真空电气常数気 的乘积。

在SI制中,绝对电容率用法/米(F/m)表示°而且.在SI单位中,电气常数s为:

= 8.854 X 10 忐 XR) (2)

在本标准中,用皮法和厘米来计算电容,真空电气常数为:

A型高频Q表和C型高频Q表主要区别


A

A

测试频率范围

25kHz~60MHz

100kHz

主调电容控制

传感器

步进马达

电容搜索

A/C高频Q表能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。

A/C高频Q表是北广精仪仪器设备有限公司最

新研制的产品,它以DDS数字直接合成方式产生信号源,频率达

60MHz /100MHz,信号源具有信号失真小、频率精确、信号幅度稳定的优点,更保证了测量精度的精确性。A主电容调节用传感器感应,电容读数精确,且频率值可设置。C主电容调节用

步进马达控制,电容读数更加精确,频率值和电容值均可设置。A/C电容、电感、Q值、频率、量程都用数字显示,在某一频率下,只要能找到谐振点,都能直接读出电感、电容值,大大扩展了电感的测量范围,而不再是固定的几个频率下才能测出电感值的大小。A/C特有的谐振点频率自动搜索或电容自动搜索功能,能帮助你在使用时快速地找到被测量器件的谐振点,自动读出Q值和其它参数。Q值量程可手动或自动转换。

频率

因为只有少数材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很宽的频率范围内它们的%和切澎几乎是恒 定的,且被用作工程电介质材料,然而一般的电介质材料必须在所使用的频率下测量其介质损耗因数和 电容率。

电容率和介质损耗因数的变化是由于介质极化和电导而产生,最重要的变化是极性分子引起的偶 极子极化和材料的不均匀性导致的界面极化所引起的。

温度

损耗指数在一个频率下可以出现一个最大值,这个频率值与电介质材料的温度有关.介质损耗因 数和电容率的温度系数可以是正的或负的,这取决于在测量温度下的介质损耗指数最大值位置。

湿度

极化的程度随水分的吸收量或电介质材料表面水膜的形成而增加,其结果使电容率、介质损耗因数 和直流电导率增大。因此试验前和试验时对环境湿度进行控制是的.

注:湿度的显著影响常常发生在1 MHz以下及微波频率范围内。

电场强度

存在界面极化时,自由离子的数目随电场强度增大而增加,其损耗指数最大值的大小和位置也随此 而变。

在较高的频率下,只要电介质中不出现局部放电,电容率和介质损耗因数与电场强度无关。

在测定电容率需要较高精度时,最大的误差来自试样尺寸的误差,尤其是试样厚度的误差,因此厚 度应足够大,以满足测量所需要的精确度。厚度的选取决定于试样的制备方法和各点间厚度的变化。 对1%的精确度来讲,1. 5 mm的厚度就足够了,但是对于更高精确度,最好是采用较厚的试样,例如 6 mm〜12 mm。测量厚度必须使测量点有规则地分布在整个试样表面上,且厚度均匀度在± 1 %内。 如果材料的密度是已知的,则可用称量法测定厚度。选取试样的面积时应能提供满足精度要求的试样 电容。测量10 pF的电容时,使用有良好屏蔽保护的仪器。由于现有仪器的极限分辨能力约1 pF,因此 试样应薄些,直径为10 cm或更大些。

需要测低损耗因数值时,很重要的一点是导线串联电阻引入的损耗要尽可能地小,即被测电容和该 电阻的乘积要尽可能小。同样,被测电容对总电容的比值要尽可能地大。第一点表示导线电阻要尽可 能低及试样电容要小,第二点表示接有试样桥臂的总电容要尽可能小,且试样电容要大,因此试样电 容最好取值为20 pF,在测量回路中,与试样并联的电容不应大于约5 pF0

把试样夹在两块互相配合好的凹模之间,凹模中充有液体金属,该液体金属必须是纯净的。汞电极 不能用于高温,即使在室温下用时,也应采取措施,这是因为它的蒸气是有毒的.

伍德合金和其他低熔点合金能代替汞。但是这些合金通常含有镉,镉象汞一样,也是毒性元素.这些 合金只有在良好抽风的房间或在抽风柜中才能用于10。笆以上,且操作人员应知道可能产生的健康危害。

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