QS-37介电常数损耗试验机

QS-37介电常数损耗试验机辅桥的技术特性

    工作电压±12V，50Hz

    输入阻抗>1012　W

    输出阻抗>0.6 W

    放大倍数>0.99

    不失真跟踪电压  0～12V（有效值）

指另装置的技术特性

    工作电压±12V

    在50Hz时电压灵敏度不低于1X10-6V／格， 电流灵敏度不低于2X10-9A／格

    二次谐波  减不小于25db

三次谐波  减不小于50db

QS-37介电常数损耗试验机测量范围及误差 

               在Cn＝100pF    R4＝3183.2（Ω）（即10K/π）时_

             在Cn＝100pF    R4＝318.3（Ω）（即1K/π）时

Cx＝R4×Cn/R3
tgδ＝ω·Ｒ４·Ｃ４
高压电源技术特性
电压输出：0～2500V/50Hz
高压电流输出：0～20mA
内置标准电容器
电容量的名义值为100pF
tgδ小于5×10-5

带屏蔽的简单西林电桥

介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。

高频电桥

测微杆分辨率0.001mm

由于选择不同的接地方法，实际上形成了两类电桥。

由于选择不同的接地方法，实际上形成了两类电桥。

上面给出的电桥平衡条件只是当低压元件对高压元件屏蔽时才成立。同时，屏蔽接地，以保证平衡稳定。如图A. 2所示。屏蔽与使用被保护的电容 C、和 C、是一致的，这个保护对于Ch来说是*的。

被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；

带屏蔽的简单西林电桥

优化的测试电路设计使残值更小

施加的频率;

试样条件处理的方法和处理时间;

平板电容极片 Φ50mm/Φ25.4mm 可选频率范围10KHz-70MHz

试样为与试验池电极直径相同的圆片，或对测微计电极来说

表面电导率很低的试样可以不加电极而将试样插人电极系统中测量，在这个电极系统中，试样的一侧或两侧有一个充满空气或液体的间隙。

对于介质损耗因数的测量，这种类型的电极在高频下不能满足要求，除非试样的表面和金属板都非常平整。

当试样插人和不插人时，电容都能调节到同一个值 ，不需进行测量系统的电气校正就能测定电容率。电极系统中可包括保护电极.

试验时的温度和相对湿度以及试样的温度;

试样上不加电极

平板电容器二极片平行度不超过0.02mm。

被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；

加到试样上的电极

绝缘材料的型号名称及种类、供货形式、取样方法、试样的形状及尺寸和取样

该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。

如果你需要较地测量，请接通电源后，预热30分钟；

试验时的温度和相对湿度以及试样的温度;

满足标准：GBT 1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在

试验时的温度和相对湿度以及试样的温度;

测试注意事项

平板电容极片 Φ50mm/Φ25.4mm 可选频率范围10KHz-70MHz

由于选择不同的接地方法，实际上形成了两类电桥。

平板电容器二极片平行度不超过0.02mm。

主电容调节范围30-500/18-220pF

夹具损耗角正切值≦4×10-4 （1MHz) Q测试范围2～1023电极系统

本测试装置是由二只测微电容器组成，平板电容器一般用来夹持被测样品，园筒电容器是一只分辨率高达0.0033pF的线性可变电容器，配用仪器作为指示仪器，绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放板电容器和不放进样品的Q值变化，由园筒电容器的刻度读值变化值而换算得到的。同时，由平板电容器的刻度读值变化而换算得到介电常数。各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。

试样可以比电极小到足以使边缘效应忽略不计 在测微计电极中，为了忽略边缘效应，试样直径约比测微计电极直径小两倍的试样厚度。