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介电常数介质损耗测试仪哪个好

介电常数介质损耗测试仪哪个好

简要描述:介电常数介质损耗测试仪哪个好特点:

1. 优化的测试电路设计使残值更小

2. 高频信号采用数码调谐器和频率锁定技术

3. LED 数字读出品质因数,手动/自动量程切换

4. 自动扫描被测件谐振点,标频单键设置和锁定,大大提高测试速度

更新时间:2020-12-28

产品型号:GDAT-A

厂商性质:生产厂家

访问量:35

产品详情
品牌北广精仪价格区间1万-2万
应用领域化工,农业,文体,能源,建材

我公司生产的有以下几款:

介电常数及介质损耗测试仪-高频

介电常数及介质损耗测试仪-工频

介电常数及介质损耗测试仪-高低频

专门测液体介电常数的设备

适合不同材料和频率段的测试,欢迎咨询~

介电常数介质损耗测试仪哪个好 被测样品要求为圆形,直径38~42 mm配GCSTD-A介电常数测试仪。这是减小因样品边缘泄漏和边缘电场引起的误差的有效办法。样品厚度可在1~5mm之间,如太薄或太厚则测试精度就会下降,样品要尽可能平直。
     注意:在操作中要十分注意样品的清洁,要戴手套或用镊子取放样品。
    下面推荐一种能提高测试**性的方法:准备二片厚0.05mm的圆形锡膜。直径和平板电容器极片一致,锡膜两面均匀地涂上一层薄薄的凡士林,它起粘附作用,又能排除接触面之间残余空气。把锡膜再粘在平板电容器两个极片上,粘好后,极片呈镜面状为佳。然后,放上被测样品。

   介电常数测试仪测试前准备:
    先要详细了解本装置配用Q表的使用方法,操作时,要避免人体感应的影响,即调节本装置时,手臂尽可能离开本装置。

    试样电容近似于△C,即是可变电容器电容的变化量。

测量误差主要来自二次指示器的标定刻度,以及在连线中尤其是在可变电容器和试样的连线中所引入的阻抗。


    检查Q表是否正常工作

            a) 将250-100μH电感器(一般先用250μH),接在Q表“Lx”接线柱上。

            b) 频率调至1MHz。

            c) 微调电容器置于“0pF”处(ZJD-B无微调电容),调节主调电容器,使其谐振,Q值应指示在160左右,调谐电容值刻度在100pF附近,表示Q表处于正常工作状态。

  国标GB/T 1409-2006,推荐Q表法测试绝缘材料的介质损耗因数和介电常数程序:

      先完成4.3规定的测试前准备基础上进行正常测试。

      把本测试装置ZJD-B插到Q表测试回路的“Cx”二个端子上(如下图)。把圆筒电容器置于12.5mm处,平板电容器置于3 mm处。

      把被测样品放置于二极片之间,到二极片夹住样品止。

      调节Q表的调谐电容器,使其谐振,此时读取Q值记为Qt,调谐电容的刻度记为Ct。

      松开平板电容器极片,取出被测样品,但平板电容器仍在置于有样品时的刻度处,保持极片距离和有样品时一致。

      再次调节Q表的调谐电容器,再次谐振,此时读取的Q值为Qo(Qo总是比Qt高,对上等绝缘材料,二者较接近,要仔细调谐,并要利用Q表的Q记忆功能,得到正确的Q值)。调谐电容的刻度记为C0(C0总是比Ct大)对低介电常数材料,电容变化值(ΔC)较小,可考虑使用Q表的ΔC调节旋钮或用ZH914,ZH915测试装置上圆筒电容器的读数变化换算成ΔC,以提高测试精度。

 试样的损耗因数计算公式为:

C0:电路中的总电容,包括电压表以及电感线圈本身的电容,一般以无试样时,Q表谐振电容值为C0(即Q表调谐电容指示值)。

△C:是移除试样后再谐振时电容值(C0)与有样品时调谐电容值(C0)之差,即:△C= C0- Ct(有试样时测得电容值)

Cp:极片空气介质结构电容,Cp= r 2 /3.6d ,式中r为测试夹具平板电极的半经,对ZJD-B而言r =1.9。所以当用厚度(d)为2mm样品测试时,用ZJD-B测Cp=5pF。同样可以查看附图1板间隙曲线得到Cp值。

Qt:有试样时测得Q值。  Qo:无试样时测得Q值。

  另一种介质损耗因数和介电常数测试仪方法(变电纳法):

     调节平板电容器测微杆,使二极片相接为止,读取刻度值记为D0。这时测微杆应处在0mm处附近。

      再松开二极片,把被测样品插入二极片之间,调节平板电容器测微杆,到二极片夹住样品止。这时能读取新的刻度值,记为D1,这时样品厚度D2=D1-D0。

      把圆筒电容器置于10mm处。

      设置Q表的测试频率,例如1MHz,调节Q表调谐电容,使之谐振,读得Q值。

      先顺时针方向,后逆时针方向,调节圆筒电容器,读取当Q表指示Q值为原值的一半时测微杆上二个刻度值,取这二个值之差,记为M1。举例:谐振时Q值为200,先顺时针方向转,Q值下降呈100时,圆筒刻度计为8mm,再逆时针转至再次出现Q值降至100时,刻度计为11mm,测二值之差M1=3。

     再调节圆筒电容器,使Q表再次谐振。即圆筒电容器重新回到10mm处。

     取出平板电容器中的样品,这时Q表又失谐,调节平板电容器,使再谐振,读取测微杆上的读值D3,其变化值为D4=D3-D0。

   款操作一样,得到新的二个值之差,记为M2,M2总比M1小。
介电常数介质损耗测试仪哪个好

试验步骤

试样的制备

 试样应从固体材料上截取,为了满足要求,应按相关的标准方法的要求来制备。

 应地测量厚度,使偏差在士(0. 2%士。.005 mm)以内,测量点应均匀地分布在试样表面。必要时,应测其有效面积。

条件处理

 条件处理应按相关规范规定进行。

测量

 电气测量按本标准或所使用的仪器(电桥)制造商推荐的标准及相应的方法进行。

 在1MHz或更高频率下,必须减小接线的电感对测量结果的影响。此时,可采用同轴接线系统,当用变电抗法测量时,应提供一个固定微调电容器。

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